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    CST-50 冲击试样缺口投影仪

    CST-50型冲击试样缺口投影仪.jpg

    一、应用领域

    CST-50型冲击试样缺口投影仪是我们根据目前国内广大用户的实际需求和GB/T229-2007《金属夏比摆锤冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而设计、开发的一种专用于检查夏比V型和U型冲击试样缺口加工质量的专用光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V或U型缺口轮廓放大投射到投影屏上,与投影屏上冲击试样V和U型缺口标准样板图比对,以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格,其优点是操作简便,检查对比直观,效率高。

    二、主要技术指标:

    1、投影屏直径 φ180mm

    2、工作台尺寸 :

         方工作台尺寸:110×125mm

         方工作台直径:90mm

         工作台玻璃直径:70mm

    3、工作台行程 :

         纵向:±10mm

         横向:±10mm

         升降:±12mm

    4、工作台转动范围: 0~360°

    5、仪器放大倍率:50X

         物镜放大倍率: 2.5X

         投影物镜放大倍率:20x

    6、光源(卤钨灯):12V   100W

    7、电源:220V   50Hz

    8、外形尺寸:515×224×603mm

    9、重量: 20kg

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